防水TYPE-C物理层试验方法说明

由于防水TYPE-C需要很高的数字信号上升时间，且高密度可逆连接器体积小，因此设计TYPE-CUSB接口对工程设计人员来说是一项具有挑战性的工作。在设计接口物理层时，设计工程师将增加互操作性事故的概率。只有通过测量和模拟进行充分调试，才能验证性能控制互连特性和制造公差，以避免上述防水TYPE-C问题。

物理层测试法是防水TYPE-C常用的模拟测试和调试方法，具体操作采用线性无源互连。线性无源互连通常使用两种类型的刺激和响应测试设备进行校准：在时域中，使用时域反射器；在频域中，使用矢量网络分析仪。无论主机采集的是时域数据还是频域数据，一个域中的数据设置都将通过简单的算法传输到另一个域中的数据。在使用简单的算法和专业软件后，设计工程师可以更轻松地完成防水TYPE-C微波信号完整性测试。常用的专业软件包括keysight的物理层测试系统、PLTs软件和20端口PXI框架的VNA。

通过上述方法正确分析防水TYPE-C材料后，我们可以获得非常多元的数据集，并对高速数字信道有更深入的了解。在设计工程师充分理解和验证差分插入损耗、差分回波损耗、阻抗分布、眼图、近端和远端串扰、模式转换和信道优化以及预加权和均衡后，可以提高接口物理层的控制能力，从而降低防水TYPE-C设计中出现意外互操作的可能性，提高接口产品的质量。