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通对TYPE-C母座进行仿真试验可以得到特性阻抗、插损、回损和串损等因素的仿真数据，通过对结果的充分分析之后，发现造成连接器母座信号完整性问题的主要原因是：特性阻抗波动过大，较小值偏小，回波损耗偏大。因此，在优化TYPE-C母座时可以着重从对这两方面的优化着手。
TYPE-C母座在信号传输过程中特性阻抗小、回波损耗大的问题实质上是阻抗不连续的问题。根据模拟试验的结果，发现连接器的公接头和母接头连接处的结构问题导致信号传输异常。因此，优化电连接器公母接触部的结构是解决电连接器信号完整性问题的关键。由于连接线的特性阻抗与电容电抗和电感电抗精确相关，因此需要通过以下两种方式增加TYPE-C母座底座的特性阻抗值。
一种是通过改变影响TYPE-C母座感应电抗的参数来增加感应电抗；第二种是通过改变影响母座电容电抗的参数来降低电容电抗。考虑到电感主要受传输线间距的影响，如果要优化影响电感的参数，需要改变线间距，这将大大改变TYPE-C母座的型号，并对电气连接器造成更多意外问题。因此，在实际优化type-cUSB主板时，人们应该综合考虑很多问题，否则会有一个考虑一个而失去另一个的情况。
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